Probador de Pérdida Dieléctrica de Frecuencia Variable| XHJS1000B
El XHJS1000B es un probador de pérdida dieléctrica (tanδ) de frecuencia variable totalmente integrado para medir el factor de disipación dieléctrica y la capacitancia de equipos de alta tensión. Combinando un puente de pérdida dieléctrica interno, una fuente de alimentación ajustable de frecuencia variable, un transformador elevador y un capacitor estándar de alta estabilidad SF6, ofrece mediciones estables y resistentes a interferencias en el sitio o en el laboratorio, y va mucho más allá de un medidor tanδ convencional con medición LCR incorporada, prueba de resistencia de aislamiento y funciones de relación/diferencia de ángulo de fase de CVT.
Aplicaciones y Público Objetivo: Diseñado para compradores B2B que verifican la calidad del aislamiento de aparatos de alta tensión: líneas de aceptación de fábrica y pruebas de tipo de fabricantes de transformadores, transformadores de instrumentos (CT/PT), CVT, casquillos, pararrayos y aceites aislantes; laboratorios de I+D e investigación de aparatos de alta tensión; e institutos de pruebas y calibración de energía de terceros, que necesitan datos rápidos y repetibles de tanδ, capacitancia y relación de CVT en la línea de producción o en el banco de pruebas.
En lugar de ser una herramienta de diagnóstico solo para campo, el XHJS1000B está diseñado como un instrumento de prueba de banco y campo: prueba simultáneamente los CVT C1 y C2 completamente sellados, mide la relación y la diferencia de ángulo de voltaje del CVT, y puede evaluar componentes inductivos y resistivos, lo que lo convierte en una solución de plataforma única para inspección de entrada, pruebas de aceptación de fábrica y evaluación del estado del aislamiento.
Especificaciones Clave
| Parámetro | Especificación |
| Modelo de Producto | Probador de pérdida dieléctrica de frecuencia variable XHJS1000B |
| Voltaje de Prueba | 0.5–10 kV, corriente de salida máxima 200 mA |
| Rango de Capacitancia | 3pF–60nF (cuatro canales Cx1+Cx2+Cx3+Cx4 < 300nF) |
| Precisión de Capacitancia | ±(1.0% lectura + 5pF) |
| Precisión de Pérdida Dieléctrica | ±(1% lectura + 0.04%) |
| Resolución de Pérdida Dieléctrica | 0.001% |
| Precisión de Frecuencia | ±0.01 |
| Frecuencia de Prueba | Frecuencia variable de 45Hz / 55Hz (anti-interferencia) |
| Resolución de Ángulo | 0.01° |
| Rango de Relación de CVT | 10–10000, precisión 3%, resolución 0.01 |
| Medición LCR | Inductancia L > 20H (2kV); Resistencia R > 10kΩ (2kV); precisión 1% |
| Resistencia de Aislamiento | CC 0.5–10 kV; precisión ±(lectura × 2% + 10V); 100kΩ–1000GΩ por debajo del 5% |
| Prueba Multicanal | Hasta 4 canales (Cx1–Cx4) para medición de bobinado múltiple |
| Almacenamiento de Datos | 100 grupos de prueba, exportación a disco flash USB compatible |
| Comunicación | Transmisión de datos por Bluetooth |
| Fuente de Alimentación | CA 220V ± 10%, 50 ± 1Hz |
| Dimensiones / Peso Unidad Principal | 350 × 270 × 320 mm / 23.85 kg |
| Dimensiones / Peso Estuche Accesorios | 350 × 270 × 160 mm / 7.45 kg |
Modos de Medición y Flujo de Trabajo de Campo
El XHJS1000B se opera completamente a través de su software de sistema incorporado, por lo que un instrumento cubre el diagnóstico de pérdida dieléctrica, capacitancia, CVT y aislamiento en una sola sesión de prueba:
- Seleccione el modo de cableado: elija conexión positiva (Cx) o negativa (Cn), o el modo de autoexcitación de CVT con el terminal ES, para que coincida con el equipo bajo prueba.
- Configure el voltaje y la frecuencia de prueba: configure la salida de 0.5–10 kV y seleccione la frecuencia variable (45Hz / 55Hz) que rechaza la interferencia de frecuencia de potencia en el sitio.
- Mida tanδ y capacitancia: el puente interno y el capacitor estándar SF6 capturan la pérdida dieléctrica y la capacitancia simultáneamente con una resolución de 0.001%.
- Pruebe CVT C1 / C2 y relación: los CVT C1 y C2 completamente sellados se miden al mismo tiempo, junto con la relación (10–10000) y la diferencia de ángulo de voltaje.
- Extienda a LCR y resistencia de aislamiento: cambie a medición de inductancia / resistencia o prueba de resistencia de aislamiento CC sin cambiar de instrumento.
- Almacene, imprima y exporte: guarde hasta 100 grupos, imprima un informe desde la impresora térmica incorporada o exporte datos a través de Bluetooth o USB.
Características Avanzadas
- Salida de frecuencia variable (45Hz / 55Hz) para una fuerte anti-interferencia y lecturas estables en sitios energizados
- Puente de pérdida dieléctrica integrado, fuente de alimentación de frecuencia ajustable y capacitor estándar de alta estabilidad SF6
- Medición simultánea de CVT C1 y C2 completamente sellados, además de la relación de CVT y la diferencia de ángulo de voltaje
- Función LCR incorporada: medición de inductancia y resistencia para reactores, bobinados y supresores
- Resistencia de aislamiento CC, relación de absorción e índice de polarización en la misma unidad
- Diseño multicanal (hasta 4 canales) para pruebas rápidas de bobinado múltiple y terminal múltiple
- Procesador de alta velocidad de 32 bits con pantalla táctil a color de 7 pulgadas y una interfaz simplificada amigable en chino/inglés
- Transmisión de datos por Bluetooth y almacenamiento USB; 100 grupos de prueba retenidos en memoria interna
- Impresora térmica incorporada de 55 mm para informes de prueba inmediatos en el sitio
- Estructura integrada robusta con estuche de accesorios separado para transporte y uso en campo confiables
Preguntas Frecuentes
P1: ¿Para quién está diseñado el XHJS1000B?
Está diseñado para compradores B2B que verifican la calidad del aislamiento de aparatos de alta tensión: líneas de prueba de fábrica de fabricantes de transformadores, transformadores de instrumentos (CT/PT), CVT, casquillos, pararrayos y aceites aislantes; laboratorios de I+D e investigación de aparatos de alta tensión; e institutos de pruebas y calibración de energía de terceros, que necesitan datos repetibles de tanδ, capacitancia y relación de CVT.
P2: ¿Qué voltaje de prueba y funciones soporta?
Genera 0.5–10 kV (máx. 200 mA) y realiza mediciones de pérdida dieléctrica (tanδ), capacitancia, relación y diferencia de ángulo de CVT, LCR y resistencia de aislamiento CC en un instrumento integrado.
P3: ¿Cómo maneja la interferencia en el sitio?
Utiliza una fuente de alimentación de frecuencia variable que cambia entre 45Hz y 55Hz para alejar la señal de prueba de la frecuencia de red de 50Hz, combinada con un capacitor estándar de alta estabilidad SF6 y filtrado digital para lecturas estables y precisas.
P4: ¿Puede probar un transformador de voltaje capacitivo (CVT)?
Sí. Mide simultáneamente los CVT C1 y C2 completamente sellados y, además, mide la relación del CVT (10–10000) y la diferencia de ángulo de voltaje, utilizando el modo de autoexcitación del terminal ES.
P5: ¿Qué lo diferencia de un probador de pérdida dieléctrica convencional?
Más allá de tanδ, integra medición LCR, resistencia de aislamiento / relación de absorción, prueba simultánea de CVT C1/C2, capacidad de hasta 4 canales, transmisión Bluetooth y una impresora térmica incorporada, convirtiendo un instrumento en una plataforma completa de prueba de aceptación de aislamiento.
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